聯(lián)系人：張先生
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FischerScope MMS測(cè)厚儀六種基本模塊的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 |
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FischerScope MMS測(cè)厚儀六種基本模塊
六種基本的模塊：
FISCHERSCOPE MMS PEMASCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS NICKELSCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS SIGMASCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS DUPLEX涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS PC涂層測(cè)厚儀
BFISCHERSCOPE MMS BETASCOPE 涂層測(cè)厚儀
模塊化設(shè)計(jì)可以在以后升級(jí)儀器到可用更多的方法進(jìn)行測(cè)量。 FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用場(chǎng)合由于采用了多種測(cè)量方法，MMS 可用于電鍍廠，線路板生產(chǎn)廠，汽車和航空生產(chǎn)廠的多種應(yīng)用場(chǎng)合。
FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀是一臺(tái)小巧和極其多用的的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng)，有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)處理能力。使用戶可以自己配置不同的測(cè)試模塊。FISCHERSCOPE MMS PC2與Windows™CE操作系統(tǒng)的模塊化測(cè)量系統(tǒng)是高精度涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試的理想解決方案。 通過(guò)LAN和USB連接的網(wǎng)絡(luò)功能可以快速集成到質(zhì)量管理體系和自動(dòng)化制造流程中。有
應(yīng)用：
鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽(yáng)極氧化涂層（PERMASCOPE®）
納米涂層（防指紋），太陽(yáng)能電池涂層（薄膜層，CdTe /玻璃），插頭觸點(diǎn)上的金涂層，焊盤上的焊料，痕量分析，光敏涂層，油和蠟層（BETASCOPE®）
測(cè)量電路板表面和通孔上的銅涂層（SIGMASCOPE®）
層壓板或多層的銅厚度，不受電路板制造中的銅涂層（SR-SCOPE®）的任何影響
電路板制造中銅阻焊層厚度（PERMASCOPE®）
汽車行業(yè)的活塞表面上的石墨涂層或制動(dòng)盤上的防腐涂層（PERMASCOPE®）
汽車行業(yè)的活塞表面（NICKELSCOPE®）上的黑色涂料
奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量（PERMASCOPE®）
銅，鋁，鈦等非磁性金屬的導(dǎo)電性（SIGMASCOPE®）
ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)整體方案：
| FISCHERSCOPE® XUL® 穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測(cè)量?jī)x，用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測(cè)量 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XULM® X射線熒光測(cè)量?jī)x，用于對(duì)小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測(cè)量 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 120 X 射線熒光測(cè)試儀，用于快速、非破壞性的對(duì)黃金和銀合金進(jìn)行分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 220 用于快速無(wú)損分析黃金和銀合金的 X 射線熒光測(cè)量設(shè)備 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 250 滿足無(wú)損材料分析和涂層厚度測(cè)量zui高要求的通用型X射線熒光測(cè)量設(shè)備 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDL® X 射線熒光測(cè)量?jī)x，用于對(duì)功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)涂層厚度測(cè) | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDLM® X射線熒光測(cè)試儀，用于對(duì)電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)量，也適用于小型結(jié)構(gòu) | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDAL® X 射線熒光測(cè)量?jī)x帶有可編程的 X/Y臺(tái)和Z軸，用于自動(dòng)測(cè)量涂鍍層厚度和材料分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDV®-SDD 滿足高要求的 X 射線熒光測(cè)試儀，帶有可編程的 X/Y 工作臺(tái)和 Z 軸，用于自動(dòng)測(cè)量極薄的涂層和進(jìn)行印痕分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDV®-µ 帶有毛細(xì)管X 光透鏡的 X 射線熒光測(cè)量?jī)x，用于在小零件和結(jié)構(gòu)上自動(dòng)測(cè)量并分析涂層厚度及涂層成分 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XUV® 773 X 射線熒光測(cè)試儀帶有真空室，通用型設(shè)備測(cè)量具有全面的測(cè)量能力 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® X-RAY-4000 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)，用于在光滑的和壓印的（包括帶有鑄模接觸面）帶鋼生產(chǎn)工藝中進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® X-RAY-5000 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)，用于在生產(chǎn)工藝中對(duì)較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析 | ||||||||
| 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件 | ||||||||
| WinFTM® 軟件® 適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件 | ||||||||
| 備件 X-RAY 產(chǎn)品備件 | ||||||||
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